Me gusta vuestro apoyo.
Pues el trabajo de hace dos días ha sido acoplar el medidor de alto vacío a la cámara de muestras.
El microscopio tiene un sensor de bajo vacío a la salida de la difusora y según calculos del fabricante con eso estiman el vacío en la parte de alta. Todo ese sistema es muy poco exacto...
La cámara tiene muchas aberturas para posibles accesorios y me preparé una brida para kf16 y acoplar la CCG.
Nada más conectarlo la presión empezó a bajar lentamente y tras unos cuantos minutos tenía permiso para encender la alta tensión.
Tomé el valor del microamperimetro como referencia (marca 18uA) símplemente por comparar después, ya que no tengo la conversión a presión hecha, y lo deje bajar aún mas hasta que llego a 4 o 5 uA.
Las pruebas con la turbo hacían llegar a cero la sonda así que estaba mosqueado, pero nada seguí y encendí.
Tras un rato viendo una muestra, abrí y la cambié, pero para mi sorpresa la presión no bajaba de 20uA en la marca del microamperimetro, así que se había declarado.
Sólo hay dos partes móviles en el microscopio, la puerta a la cámara de muestras y el cañon de electrones.
Repasé la puerta en busca de suciedad, limpié un poco la grasa reseca y apliqué un poco de nueva, pero nada, el medidor seguía estancado y la fuga presente.
Así que abrí el cañon, repase la junta, engrasé y entonces bingo, la fuga cesó.
Todo esto hubiera sido imposible sin el medidor del PFDC, ya que aunque no la tenga calibrada es muy buen accesorio para detectar como está el sistema.
Además todo cuadra, porque una fuga en esa parte del sistema de vacío expone directamente al aire el filamento (en vacío parcial pero al final con oxigeno) y eso aniquila los filamentos.
Así que satisfecho con los ultimos trabajos.
Saludos
Por cierto, al estar el sensor en la cámara de muestras y por la tipología del sensor, tenia miedo a encender el fotomultiplicador y que la descarga lo saturara, o interfiriera con la muestra, pero nada de nada.
El fotomultiplicador no se ve afectado por la sonda y a mí me da una idea rápida del nivel de alto vacio real durante el uso.
